Специалисты ИЦ ВИАМ рассказали о выполненных работах первого этапа реализации гранта «СиН-2 (https://isp.viam.ru/news/210)
- 3 просмотра
В рамках реализации Мероприятия 1 Федеральной научно-технической программы развития синхротронных и нейтронных исследований и исследовательской инфраструктуры на период до 2030 года и дальнейшую перспективу НИЦ «Курчатовский институт» – ВИАМ проводит научно-исследовательскую работу «Создание методологических основ использования синхротронного излучения для разработки технологий структурной диагностики и создания уникальных полимерных композиционных материалов, переработанных с применением аддитивных технологий» (Соглашение 05.06.2025 № 075-11-2025-054).
Работы 2025 года посвящены исследованиям и разработке технологии изготовления композиционного порошка на основе термопласта полиэфиркетонкетон и дискретных волокон углерода методами механического смешивания, экструзии, криогенного измельчения и сфероидизации.
Совместно с НИЦ «Курчатовский институт» проведен обширный комплекс исследований формы, структуры и дефектности частиц, химического состава, а также теплофизических свойств гранул и порошков полученного композиционного материала.
Проведено комплексное исследование образцов PEKK_UV (полиэфиркетонкетона, армированного углеродными волокнами) и PEKK (образца сравнения, полиэфиркетонкетона) методами малоуглового рентгеновского рассеяния и порошковой рентгеновской дифракции. Получена информация о структурных характеристиках композитного материала в сравнении с образцом без углерода. На основании результатов проведенных исследований разработана технологическая инструкция на изготовление композиционного порошка марки ВТП-14 на основе термопласта ПЭКК и дискретных волокон углерода.
Полученные на данном этапе работ результаты в полной мере удовлетворяют целям Мероприятия 1 Федеральной программы и являются основой для дальнейших исследований, направленных на получение перспективного композиционного материала для аддитивной технологии селективного лазерного спекания на основе термопласта полиэфиркетонкетон и дискретных волокон углерода.

Двумерная картина малоуглового рассеяния рентегновских лученй образцом ПЭКК+С

Морфология поверхности ПЭКК (а) и ПЭКК + С (б)